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拼接式閃測儀測量筆記本按鍵外殼
內(nèi)容簡介 拼接式閃測儀測量
拼接式閃測儀，高效精準測量筆記本按鍵外殼，具備大視野與高精度特點，可迅速完成二維幾何參數(shù)等非接觸式測量，為筆記本按鍵外殼的質(zhì)量控制提供堅實保障，助力制造業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型與智能制造。
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